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簡要描述:日本理學(xué) X 射線熒光光譜儀(XRF)X 熒光光譜儀自二十世紀(jì)四十年代開始商業(yè)化后,隨著技術(shù)的不斷發(fā)展,越來越多的使用于各行各業(yè).該方法因?yàn)槠湟恍┎豢商娲奶攸c(diǎn)正成為各實(shí)驗(yàn)室*的分析手段.X 熒光光譜儀主要分為中高檔的波長色散 X 熒光光譜儀和中低檔的能量色散 X 熒光光譜儀
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日本理學(xué) X 射線熒光光譜儀(XRF)
Rigaku 理學(xué)公司是一家專業(yè)生產(chǎn) X 射線熒光光譜儀和 X 射線衍射儀的制造商,于 1923 年在 日本創(chuàng)立了理學(xué)電機(jī)制作所,隨后于 1951 年設(shè)立理學(xué)電機(jī)株式會(huì)社,終在 1994 年成立了株式 會(huì)社理學(xué)。理學(xué)公司在日本東京和大阪有兩個(gè)生產(chǎn)工廠,在*球設(shè)立了亞太、歐洲、北美和南美 四個(gè)大區(qū),并在中國建立的銷售、應(yīng)用技術(shù)支持、售后技術(shù)服務(wù)的完善管理系統(tǒng)。
理學(xué)公司擁有各類 X 射線熒光光譜儀,既有*端的波譜儀,又有中低端的能譜儀。*端的波 譜儀有上照式儀器,也有下照式儀器,同時(shí)有全掃描道儀器,也有固定道儀器。公司在 X 熒光幾 十年的經(jīng)驗(yàn),加上一些*利設(shè)計(jì)使理學(xué)儀器的分析濃度范圍特別廣,分析對(duì)象雜,各種類型的樣品 均可以直接測量。
日本理學(xué) X 射線熒光光譜儀(XRF)
ZSX 系列波長型 X 射線熒光光譜儀:
? 分析元素范圍: Be-U 之間任何元素,從低含量到高含量均可以準(zhǔn)確測量。
? 分析濃度范圍:ppm-100%
? 直接定量分析對(duì)象:(可以同時(shí)分析您所感興趣的元素,制樣簡單)
? 固體:塊狀樣品(規(guī)則,不規(guī)則)比如:鋼鐵,有色行業(yè)(純金屬或多元合金等),金飾品等; ? 固體:線狀樣品,包括線材,鋼絲,鋼簾線可以直接測量;
? 固體:鉆削等不規(guī)則樣品,可以直接測量; ? 粉末: 礦物,陶瓷,水泥(生料,熟料,原材料,成品等),泥土,粉末冶金,鐵合金或少量稀松粉末,可以直接 測量;亦可以壓片測量或制成玻璃熔珠; ? 多層分析:可以分析多達(dá) 12 層,包括厚度和每層的含量,多層多元素;
? 大型樣品:如文物等可以直接無損分析;
? 液體:任何溶液可以直接測量;
? 油類:可以分析任何油類樣品,比如:汽油,潤滑油等;
? 漿類樣品:可以直接分析漿類樣品如泥漿等;
? 有機(jī)物:塑料,纖維,食品,有機(jī)試劑,催化劑等;
? 稀土各元素(可單獨(dú)測量各個(gè)元素)。
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